金属磁记忆技术理论试卷2

31.同一直径的管子壁厚是否影响漏磁场的数值？

A. 是；

B. 否。

32.一种直径的管子壁厚（δw）的减小或增大如何影响漏磁场的数值？

A. δw的减小使漏磁场增大；

B. δw的增大使漏磁场变小；

C. 无影响；

D. A或B。

33.用金属磁记忆方法检测时壳体的临界尺寸如何表征？

A. 在检测对象表面壳体的临界尺寸表现为磁场Hp零值线之间的*小距离；

B. 在检测对象表面壳体的临界尺寸表现为金属层*邻近的稳定滑移带之间的距离；

C. 在检测对象表面壳体的临界尺寸表现为两个*邻近的漏磁场Hp极值之间与壳体型式尺寸成倍数的距离。

34.对管子而言“壳体临界尺寸”是由何种几何尺寸决定的？

A. 壁厚；

B. 直径；

C. 长度；

D. A+B。

35.管道、容器的“壳体临界尺寸”是受何种作用所制约？

A. 在工作负荷作用下的剪切变形；

B. 弹性应力和变形；

C. 切向应力；

D. A+B。

36.如何能在检测对象上测定“壳体临界尺寸”？

A. 根据漏磁场的分布性质；

B. 根据漏磁场极值之间的距离；

C. 通过检测对象的型式尺寸与漏磁场极值之间距离的比较。

37.何为位错？

A. 在晶体内部形成位移区边界的线性缺陷（不完善）；

B. 无原子或离子的晶格结点；

C. 晶体中的立体（三维）缺陷。

38.何为位错壁？

A. 多晶体材料晶粒之间的边界；

B. 一部分晶体，在这部分晶体中晶体组织为其余部分晶体的反射；

C. 平面（平面壁）或沿一定的表面（称为扭转边界）的位错集聚。

39.在什么条件下检测对象金属温度的升高影响磁性和漏磁场的急剧改变？

A. 当金属温度不超过居里点和温度自补偿不足的时候；

B. 当温度超过居里点时；

C. 当金属加热时；

D. A+B。

40.为什么在裂纹的不同“岸边”会有一种符号的磁场？

A. 非发展性裂纹；

B. 发展性裂纹；

C. 裂纹位于小尺寸磁性零件；

D. A或D；

E. 在负荷消除后凝结于强压缩状态的裂纹。

41.在何种应力下残磁的磁弹性增长值会更大？

A. 拉伸应力；

B. 压缩应力。

42.在什么情况下在工作负荷的作用下检测对象中会形成自有漏磁场符号改变线？

A. 在切向应力作用下产生稳定的位错滑移场时；

B. 当弹性变形转换为塑性变形时；

C. 在壳体（管子、容器筒体等）的*大挠曲区；

D. A或B；

E. A+B+C。

43.在小周期负荷和振动负荷下磁性的磁弹性增长值有无差别？

A. 有；

B. 无；

C. 在规定振动频率的情况下。

44.在何种磁参数时必须确定有无裂纹？

A. 当磁场Hp强度值增大时；

B. 当磁场Hp强度值符号改变时；

C. 当该检测对象的磁场梯度Kin大于平均值2~3倍时。

45.用金属磁记忆方法检测时要测量磁场矢量的什么分量？

A. 朝向制品表面的法向分量；

B. 切向分量；

C. 与传感器轴心重合的分量。

46.金属磁记忆方法适用于何种材料的检测？

A. 铁磁材料；

B. 顺磁材料；

C. 电介质材料；

D. A和B。

47.金属磁记忆方法与磁粉检测方法的主要区别是什么？

A. 采用人工充磁；

B. 采用自然充磁；

C. 无需清理金属；

D. B+C。

48.金属磁记忆方法属于何种方法？

A. 反应式；

B. 主动式。

49.采用金属磁记忆方法时检测对象要求哪些准备工作？

A. 清理金属；

B. 人工充磁；

C. 无需任何准备工作。

50.哪些因素会影响磁场Hp强度测量数值的**？

A. 传感器（测量通道）与测量对象表面的间距；

B. 传感器保护垫片的种类；

C. 由微处理器和其他微电路工作引起的仪器“噪声”；

D. 扫描速度和间距；

E. 检测对象表面覆层、锈蚀和粗糙度的不均匀；

F. A+B；

G. B+C+D；

H. A+B+C+D+E。

51.哪些主要干扰影响金属磁记忆方法检测结果？

A. 磁粉探伤的人工充磁；

B. 冷作硬化；

C. 在金属磁记忆方法之前预做涡流检测；

D. 在金属磁记忆方法之前对表面磨削；

E. A+C；

E. A+B+D。

52.在实践中采用金属磁记忆方法有哪些主要干扰？

A. 人工充磁；

B. 冷作硬化；

C. 检测对象与“第三者”铁磁制品相交；

D. 振动；

E． A+B+C。

53.用金属磁记忆方法检测时为何需要消除外部磁场的影响？

A. 为使显示屏上不出现“多余的”通道漏磁场强度分布图；

B. 为了只记录检测对象的漏磁场强度分布，以提高检测精度；

C. 为了减少外部磁场对检测对象磁性的影响。

54.何时可以不做消除外部磁场的调整？

A. 如果检测对象有很厚的绝缘层；

B. 如果仪器有1个铁磁探测转换器；

C. 如果检测对象与外部磁场屏蔽。

55.何时不能做消除外部磁场的调整？

A. 如果TSC系列或TSCM-2FM型仪器不能**外部磁场调整制式；

B. 如果**调整的铁磁探测转换器存有故障；

C. 如果检测对象的自有漏磁场会对**调整的铁磁探测转换器产生影响；

D. 如果置于检测对象附近的其他对象其自有漏场会对**调整的铁磁探测转换器产生影响；

E. B+C+D；

F. A+B+C。

56.何时需要重新对传感器做磁场调整（《H标定》）？

A. 在每次接通仪器时；

B. 如果传感器的铁磁探测转换器朝向不同方面；

C. 如果使用的是带连接电缆的I型（“小车”型）传感器；

D. 当使用修理过的传感器时；

E. 当1个或所有铁磁探测转换器错误地显示地球漏磁场强度时；

F. C+D+E；

G. A+C+D。

57.何时需要按标准长度重新调整仪器和传感器（《L标定》制式）？

A. 在每次接通仪器时；

B. 在把传感器的大直径轮子换成小直径轮子时；

C. 在把传感器的小直径轮子换成大直径轮子时；

D. 当检测表面有油污、能导致传感器轮子滑动时；

E. 当更换传感器型号、而新型传感器此前未做过《L标定》调整时；

F. B+C+E。

58.根据什么条件在仪器《设置》菜单选择扫描步长S？

A. 扫描步长可随意选择，对检测结果没有影响；

B. 根据该检测对象的检测方法和在表面扫描区段的长度选择步长；

C. 步长应是被检部件壁厚的倍数。

59.如何确定来自检测对象附近辅助设备的干扰（电磁辐射）的可能影响？

A. 根据技术文件载明的辅助设备技术规格确定；

B. 通过在干扰源远处测量和比较漏磁场强度来确定；

C. 通过在电磁辐射源近处和远处测量磁场强度Hp，以及测定**干扰消失的距离来确定。

60.当管子外径d多大时能更好地显示由金属变形引起的局部磁性变化和相应的磁场Hp变化？

A. 自d=1020毫米和更大；

B. 自d=32毫米和更小；

C. 在d=60-420毫米范围。